·您不用为高难度的操作过程所烦恼，简单明了的符号将辅助您轻松完成各项测量。 
·测量工作站适合在实验室和生产线进行测量。有多种结构可供选择，以便在表面形貌特征测量系统中实现测量微元素的无限可能性。

特点
测量/评定：
基于Windows操作系统的MarSurf XR 20软件具有德语、英语、法语、意大利语以及西班牙语等多种语言。

参数和轮廓：
过65个R-轮廓、P轮廓、W轮廓和motifs参数，带公差监测和统计功能。参数列表和特征曲线。

轮廓分辨率：
取决于传感器型号，为± 25 μm测量范围内，小分辨率可达76 nm。

测量范围：
± 25 μm到± 2500 μm，取决于所用传感器类型。

采样长度个数N：
1个到5个，或1个到Nmax个在N x Lc模式中，Nmax=驱动单元的大测量长度/Lc滤波设定）

滤波器类型：
GS / 2RC / SF ISO 13565-1 /外形翻转NEG/ARC-（弧形消除） -支持选择其他特别的过滤器

取样长度 Lc：
可自由设定Lc，大25 mm ，Lc = f（lt）；0.025 mm / 0.08 mm / 0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm / 8 mm以及短截止波长Lc， 默认取样长度值符合ISO 4288规定，取样长度取决于Lt和dx。

驱动单元
PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120, PRK （通过PAV 62）

应用
·汽车行业以及汽车供应商，
  如测量发动机和壳体 
·塑料工业，
  如测量塑料齿轮齿面 
·医学技术，
  如测量输液瓶

测量配置的构成（测量附件组成）
测量配置（附件）包括：
·带有MarSurf XR 20 测量评估软件的计算机 
·适用驱动器：PZK, PGK 20, GD 25, PGK 
·无导块 MFW传感器套件 
·PST-D测量立柱，还有PST-F, PST-G, PST-SE, ST 500可供选择